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產(chǎn)品資料

硬度計測試儀

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 硬度計測試儀
產(chǎn)品型號: Equotip 550 Leeb
產(chǎn)品展商: PROCEQ
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔

簡(jiǎn)單介紹

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀根據需要自動(dòng)轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）自動(dòng)更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準確度為 0.5%）測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿(mǎn)足絕大多數的硬度檢測要求。Equotip 550 Leeb硬度計測試儀每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準確的硬度測試塊，，用于定期驗證。


硬度計測試儀  的詳細介紹

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀







 

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀是便攜式硬度檢測功能齊全的體化解決方案。 里氏硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法，適用于重型、大型或已安裝部件的現場(chǎng)檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭，Equotip 550 可使用傳統的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。 這將能夠在現場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。 

新代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專(zhuān)精心設計的界面，提高了檢測效率和改良用戶(hù)體驗。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向導、自動(dòng)驗證進(jìn)程、個(gè)性化選項和自定義報告功能。 此外，該儀器可兼容后續開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執行高質(zhì)量的測量和對已測得數據進(jìn)行分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現場(chǎng)使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為全球廣泛認可的測量技術(shù)和行業(yè)標準。 Equotip 裝置完全滿(mǎn)足眾多行業(yè)對無(wú)損硬度檢測的要求。

Equotip Leeb

  • 根據需要自動(dòng)轉換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
  • 自動(dòng)更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準確度為 0.5%）
  • 測量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來(lái)滿(mǎn)足絕大多數的硬度檢測要求。
  • 每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和準確的硬度測試塊，，用于定期驗證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

  • 模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應用
  • 組合法： 在現場(chǎng)自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值
  • 引導向導： 預定義工作流以增強進(jìn)程可靠性和提高測量準確度
  • 自動(dòng)驗證： 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
  • 互動(dòng)指南： 通過(guò)屏幕通知為您的應用獲取相關(guān)的設置
  • 轉換曲線(xiàn)： 直接在儀器上創(chuàng )建、編輯和驗證轉換曲線(xiàn)
  • 自定義報告： 模塊化報告處理器允許自定義測量報告
  • 自動(dòng)選項： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統和自動(dòng)檢測環(huán)境
  • 外殼經(jīng)過(guò)特殊設計，可用于嚴苛的現場(chǎng)環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽(yáng)蓋
  • 高分辨率彩色顯示屏
  • 電池使用時(shí)長(cháng) > 8h
  • 8 GB 閃存
  • 雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網(wǎng)
  • 通過(guò)直接兼容后續開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，實(shí)現未來(lái)保護投資
  • 里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
  • 合適用于材料挑選、驗收和生產(chǎn)環(huán)節檢測
  • 合適用于重型和大型部件安裝前后的現場(chǎng)檢測
  • 方便用于難進(jìn)入或空間有限的金屬硬度檢測場(chǎng)地

Proceq 提供些附件，例如個(gè)測量夾或幾個(gè)支撐腳，適合在各種測試件結構上進(jìn)行手動(dòng)硬度測量

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀標準

  • ASTM A956 / E140 / A370
  • ISO EN 16859（即將發(fā)布）
  • DIN 50156
  • GB/T 17394
  • JB/T 9378


Equotip 550 Leeb硬度計測試儀準則

  • ASME CRTD-91
  • DGZfP Guideline MC 1
  • VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1
  • Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

Equotip 550 Leeb硬度計測試儀:

顯示屏 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內存 內置 8 GB 閃存
（可存儲多達 1000000 個(gè)測量值）
區域設置 公制和英制單位，支持多種語(yǔ)言和時(shí)區
電池 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah
電池使用時(shí)長(cháng) > 8h（標準操作模式下）
電源輸入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量（顯示裝置） 大約 1525 g（含電池）
尺寸 250 x 162 x 62 mm
高海拔 2500 m 海拔高度
濕度 < 95?%RH，非冷凝
操作溫度 0°C 至 30°C（32 至 86°F）
（正在充電且儀器正在運行）
0°C 至 40°C（32 至 104°F）
（正在充電且儀器關(guān)閉）
-10°C 至 50°C（14 至 122°F）
（未充電）
環(huán)境 適合室內與室外使用
IP 等 IP 54
污染等 2
安裝類(lèi)別 2


Equotip Leeb 沖擊裝置:

測量范圍 1-999 HL
測量精度 ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5 %）
分辨率 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2)
沖擊方向 自動(dòng)補償（DL 探頭除外）
沖擊能量
  • D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm
  • DL 探頭為 11.1 Nmm
  • C 探頭為 3.0 Nmm
  • G 探頭為 90.0 Nmm
沖擊體質(zhì)量
  • D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司）
  • DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司）
  • C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司）
  • G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司）
球壓頭
  • C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） 
  • DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米
    （0.11 英寸） 
  • G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸）
  • S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸）
  • E 探頭為多晶金剛石，直徑
     3.0 毫米（0.12 英寸）
操作溫度 –10?C 至 50?C（14 至 122°F）

 


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